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半导体C-V测量仪(BXT301A)

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半导体参数分析仪(BXT2931C)

1、设备描述   BXT2931C型四通道半导体参数分析系统为、全自动、可程控设备。可用于多类半导体器件(如二管、三管、场效应管、MOS、CMOS管等的多种不同成品形式如晶片、成品电路等)的直流参数测量... ...

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