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半导体C-V测量仪(BXT301A)

BXT301A是用于测量半导体器件和材料的电容相关参数的设备,包括1MHZ频率的电容表和可提供高自动化测试的斜线电压产生器。可编程控制在电压开始和终止值间按设定比率向被测样品器件输出斜线电压,PC机和BXT30... ...

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半导体参数分析仪(BXT2931C)

1、设备描述   BXT2931C型四通道半导体参数分析系统为、全自动、可程控设备。可用于多类半导体器件(如二管、三管、场效应管、MOS、CMOS管等的多种不同成品形式如晶片、成品电路等)的直流参数测量... ...

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